分析・解析装置一覧
業界屈指の最先端分析・解析装置を配備し、めっきプロセスの液分析管理、素材・めっきサンプルの表面分析・試験評価を行い、試作・量産の品質の安定化とソリューションを展開しております。
表面分析 For analyzing surfaces
- 蛍光X線式膜厚計
- デジタルマイクロスコープ
- 走査型電子顕微鏡（SEM）
- 電界放出型走査型電子顕微鏡（FE-SEM）
- エネルギー分散型X線分析装置（EDS）
- 表面形状粗さ測定器（レーザー式）
- カラーレーザー顕微鏡
- 原子間力顕微鏡（AFM）
- 測定顕微鏡
- 分光光度計（固体測定用）
- Arイオンビームクロスセッションポリッシャー（CP）
- X線光電子分光（XPS ESCA）
- X線回折（XRD）
- 示差走査熱量計（DSC)
- インピーダンス測定装置
液分析 For analyzing solutions
- 原子吸光分光光度計（AAS）
- 誘導結合プラズマ発光分析装置（ICP-OES）
- 高速液体クロマトグラフィー（HPLC）
- イオンクロマトグラフィー（IC）
- 高性能キャピラリー電気泳動分析装置（HPCE）
- 分光光度計（UV-Vis）
- サイクリックボルタンメトリーストリッピング（CVS）
- ポーラログラフ
- 自動滴定装置（AT）
- 界面活性剤滴定装置
- 表面張力計
試験・評価 Test evaluation
- 引張強度試験機
- 超微小押し込み硬度計
- 温湿度冷熱サイクル試験機
- 恒温恒湿試験機
- 超加速寿命試験装置
