分析・解析装置一覧 

業界屈指の最先端分析・解析装置を配備し、めっきプロセスの液分析管理、素材・めっきサンプルの表面分析・試験評価を行い、試作・量産の品質の安定化とソリューションを展開しております。

表面分析 For analyzing surfaces

  • 蛍光X線式膜厚計
  • デジタルマイクロスコープ
  • 走査型電子顕微鏡(SEM)
  • 電界放出型走査型電子顕微鏡(FE-SEM)
  • エネルギー分散型X線分析装置(EDS)
  • 表面形状粗さ測定器(レーザー式)
  • カラーレーザー顕微鏡
  • 原子間力顕微鏡(AFM)
  • 測定顕微鏡
  • 分光光度計(固体測定用)
  • Arイオンビームクロスセッションポリッシャー(CP)
  • X線光電子分光(XPS ESCA)
  • X線回折(XRD)
  • 示差走査熱量計(DSC)
  • インピーダンス測定装置

液分析 For analyzing solutions

  • 原子吸光分光光度計(AAS)
  • 誘導結合プラズマ発光分析装置(ICP-OES)
  • 高速液体クロマトグラフィー(HPLC)
  • イオンクロマトグラフィー(IC)
  • 高性能キャピラリー電気泳動分析装置(HPCE)
  • 分光光度計(UV-Vis)
  • サイクリックボルタンメトリーストリッピング(CVS)
  • ポーラログラフ
  • 自動滴定装置(AT)
  • 界面活性剤滴定装置
  • 表面張力計

試験・評価 Test evaluation

  • 引張強度試験機
  • 超微小押し込み硬度計
  • 温湿度冷熱サイクル試験機
  • 恒温恒湿試験機
  • 超加速寿命試験装置
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