御社の観察・解析・分析は充分でしょうか？

弊社コア事業の『めっき技術』により磨かれた分析解析能力を用いて、『受託分析』事業を立ち上げました。

■SEM（走査型電子顕微鏡）/FE-SEM（電界放出型走査型電子顕微鏡）

試料表面の凹凸を数万倍まで拡大して観察が可能です。

例えば、50000倍では、下の様な写真を撮影できます。

めっき前ステンレス材（左）とめっき後ステンレス材（右）。共に50000倍

 

■EDX（エネルギー分散型X線分析装置）
周期表におけるB（ホウ素）～U（ウラン）までの元素分析が可能です。
試料表面の元素の定性・定量ができます。

ご満足頂ける結果を最短時間で報告可能としています。

観察・解析・分析について、ご相談ください。

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